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T1 Circuito de acondicionamiento para el control y estabilización de la potencia de emisión de un diodo láser
A1 Ruiz Herrrero, Ignacio
AB En el presente documento, se estudian los diodos láser dentro de su aplicación como fuente deiluminación en sistemas de instrumentación optoelectrónicos con sensores de fibra óptica. Aquí, esimprescindible que la fuente de emisión de luz sea estable para la obtención de unas medidasadecuadas.Entre los principales factores que afectan a las características de emisión de un diodo láser,están la temperatura y las variaciones de corriente. Además, estos dispositivos son extremadamentesensibles a transitorios de corriente y de tensión, así como también a descargas electrostáticas(ESD). Es por ello, que normalmente se emplean circuitos de acondicionamiento para lograrestabilizar la emisión de la fuente, y de esta manera obtener un mejor desempeño a la hora detrabajar en un sistema de instrumentación.En el mercado, existen diversos tipos controladores específicamente diseñados para este fin.Estos, además de estabilizar la potencia de emisión, incluyen determinados sistemas de protecciónpara garantizar la correcta operación del diodo láser. De esta manera, proporcionan una solucióneconómica y compacta, a través de un circuito integrado de aplicación específica (ASIC).Como parte del trabajo realizado en este proyecto de fin de carrera, se presenta un estudiocomparativo entre varios controladores integrados disponibles en el mercado. Basados en elresultado de este estudio, se escoge un controlador con el fin de diseñar un circuito deacondicionamiento para estabilizar la potencia óptica emitida por un diodo láser. Asimismo, seimplementa este sistema de control en una tarjeta de circuito impreso (PCB).Este sistema es caracterizado, y su funcionamiento es puesto a prueba con dos tipos dedispositivos láser: uno de ellos es un láser de tipo semiconductor (diodo láser), y el otro un láser deestado sólido (DPSS). Los resultados de la caracterización, son comparados con las especificacionesproporcionadas por el fabricante del circuito integrado utilizado en el diseño, con el fin decontrastar y comprobar que el rendimiento del sistema implementado mantiene sus prestaciones.Finalmente, el circuito de control diseñado es probado en una aplicación prácticainterferométrica, verificando así la utilidad del sistema y su funcionalidad en una aplicación real.
YR 2013
FD 2013-10-23
LK https://hdl.handle.net/10016/18106
UL https://hdl.handle.net/10016/18106
LA spa
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RD 2 may. 2024