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Circuito de acondicionamiento para el control y estabilización de la potencia de emisión de un diodo láser

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2013-10-23
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2013-10-23
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En el presente documento, se estudian los diodos láser dentro de su aplicación como fuente de iluminación en sistemas de instrumentación optoelectrónicos con sensores de fibra óptica. Aquí, es imprescindible que la fuente de emisión de luz sea estable para la obtención de unas medidas adecuadas. Entre los principales factores que afectan a las características de emisión de un diodo láser, están la temperatura y las variaciones de corriente. Además, estos dispositivos son extremadamente sensibles a transitorios de corriente y de tensión, así como también a descargas electrostáticas (ESD). Es por ello, que normalmente se emplean circuitos de acondicionamiento para lograr estabilizar la emisión de la fuente, y de esta manera obtener un mejor desempeño a la hora de trabajar en un sistema de instrumentación. En el mercado, existen diversos tipos controladores específicamente diseñados para este fin. Estos, además de estabilizar la potencia de emisión, incluyen determinados sistemas de protección para garantizar la correcta operación del diodo láser. De esta manera, proporcionan una solución económica y compacta, a través de un circuito integrado de aplicación específica (ASIC). Como parte del trabajo realizado en este proyecto de fin de carrera, se presenta un estudio comparativo entre varios controladores integrados disponibles en el mercado. Basados en el resultado de este estudio, se escoge un controlador con el fin de diseñar un circuito de acondicionamiento para estabilizar la potencia óptica emitida por un diodo láser. Asimismo, se implementa este sistema de control en una tarjeta de circuito impreso (PCB). Este sistema es caracterizado, y su funcionamiento es puesto a prueba con dos tipos de dispositivos láser: uno de ellos es un láser de tipo semiconductor (diodo láser), y el otro un láser de estado sólido (DPSS). Los resultados de la caracterización, son comparados con las especificaciones proporcionadas por el fabricante del circuito integrado utilizado en el diseño, con el fin de contrastar y comprobar que el rendimiento del sistema implementado mantiene sus prestaciones. Finalmente, el circuito de control diseñado es probado en una aplicación práctica interferométrica, verificando así la utilidad del sistema y su funcionalidad en una aplicación real.
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Keywords
Diodos láser, Optoelectrónica, Sensores de fibra óptica, Iluminación, Instrumentación
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